光本位科技取得一種芯片測試結構的製備方法及系統專利
金融界2024年10月25日消息,國家知識產權局信息顯示,光本位科技(蘇州)有限公司取得一項名爲“一種芯片測試結構的製備方法及系統”的專利,授權公告號CN 118393195 B,申請日期爲2024年6月。
本文源自:金融界
作者:情報員
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