光本位科技取得一種芯片測試結構的製備方法及系統專利
金融界2024年10月25日消息，國家知識產權局信息顯示，光本位科技（蘇州）有限公司取得一項名爲“一種芯片測試結構的製備方法及系統”的專利，授權公告號CN 118393195 B，申請日期爲2024年6月。
本文源自：金融界
作者：情報員
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