盛科通信-U申請芯片測試系統及方法專利,提高芯片測試效率,且成本低
金融界2024年7月3日消息,天眼查知識產權信息顯示,蘇州盛科通信股份有限公司申請一項名爲“芯片測試系統及方法“,公開號CN202410368039.2,申請日期爲2024年3月。
專利摘要顯示,本發明公開了一種芯片測試系統及方法,屬於芯片測試技術領域。系統包括芯片承載板、信號轉換器和測試主機,其中,芯片承載板用於承載待測芯片:信號轉換器用於測試主機接口與GPIO接口之間信號的轉換;測試主機基於芯片功能網表生成自動測試程序,進一步執行自動測試程序並通過信號轉換器向待測芯片輸入測試信號,同時獲取芯片反饋的信號,根據芯片反饋的信號確定測試結果。本發明能夠隨時滿足芯片設計公司的芯片測試需求,提高芯片測試效率,且成本低。
本文源自:金融界
作者:情報員
相關資訊
- ▣ 龍迅股份取得一種芯片測試方法及系統專利,提高芯片測試效率。
- ▣ 全志科技申請 SOC 芯片測試相關專利,提升芯片測試效率
- ▣ 龍芯中科申請芯片、芯片測試方法、電子設備以及存儲介質專利,大大減少測試成本
- ▣ 上海貝嶺申請車規芯片專利,降低車規芯片的測試難度和測試成本
- ▣ 光本位科技取得一種芯片測試結構的製備方法及系統專利
- ▣ 北京智芯微申請安全芯片的算法測試專利,解決現有安全芯片算法測試問題
- ▣ 安路信息申請基於FPGA的全芯片位流仿真專利,提高仿真測試效率
- ▣ 杭州傲芯科技申請用於芯片DFT的高可靠性測試向量讀取電路及方法專利,提高了測試向量的穩定性
- ▣ 武漢億緯儲能申請儲能系統測試方法及測試裝置專利,提升工作效率
- ▣ 運達能源申請一種風電葉片靜力測試方法專利,提高設計測試方案的效率及葉片測試方案的可靠性
- ▣ 復旦微電申請晶圓芯片多路並測裝置及方法專利,可以快速高效地排除各處異常測試通路的晶圓芯片
- ▣ 寧德時代申請電芯極片對齊度檢測系統及方法專利,提高了電芯極片對齊度檢測的可靠性
- ▣ 華虹半導體(無錫)申請晶圓測試缺陷芯片標記專利,提升芯片缺陷標記效率
- ▣ 南京芯視元取得芯片光學特性測試設備專利,設備批量測試效率高
- ▣ 鑫方卡申請一種RFID標籤的性能測試方法及系統專利,提高了RFID標籤性能測試的效率及準確性
- ▣ 中移物聯網申請測試測試套件的方法專利,提高測試效率和準確度
- ▣ 北汽新能源申請 BMS 的標定量測試方法專利,提高測試效率
- ▣ 阿里雲申請應用程序測試專利,提高測試效率
- ▣ 崑崙芯(北京)申請芯片驗證相關專利,提高芯片驗證效率
- ▣ 利揚芯片獲得發明專利授權:“一種紅外接收芯片測試修調系統”
- ▣ 工商銀行申請壓力測試方法專利,解決壓力測試效率低的問題
- ▣ 晶合集成取得一項半導體芯片測試電路結構專利,能提高半導體芯片的缺陷或腐蝕的檢測效率
- ▣ 東風集團股份申請自動生成車機軟件測試用例和資源的系統及方法專利,能夠對測試用例和測試資源進行創建和管理,提高測試效率
- ▣ 臺積電申請集成芯片和用於形成集成芯片的方法專利,提高集成芯片的性能
- ▣ 中國銀行申請測試方法、裝置、電子設備和存儲介質專利,提高了測試對象的測試效率
- ▣ 龍芯中科申請代碼語句生成方法專利,提高代碼語句生成效率降低成本
- ▣ 普冉股份取得芯片測試相關專利,便於測試工程師及時發現芯片疊料或卡料
- ▣ 永鼎股份取得芯片表面缺陷檢測方法及系統專利
- ▣ 中科華芯申請 ATV 全地形車整車維護管理系統及方法專利,提高了維護效率