中科院南京天文儀器申請基於艾裡斑光電成像的小口徑長焦光學系統焦距測量專利，能快捷調試長焦系統

金融界2024年11月30日消息，國家知識產權局信息顯示，中科院南京天文儀器有限公司申請一項名爲“基於艾裡斑光電成像的小口徑長焦光學系統焦距測量方法”的專利，公開號CN 119043670 A，申請日期爲2024年9月。

專利摘要顯示，本發明公開了一種基於艾裡斑光電成像的小口徑長焦光學系統焦距測量方法，其步驟包括：激光光源經準直器件後進入被測長焦系統，相機置於被測長焦系統焦距的設計值處；調整使三者共軸，相機光敏面出現艾裡斑圖像；調整光斑亮度並求解光斑的質心；提取光斑在質心處的一維光強分佈的灰度向量，進行貝塞爾函數擬合得到光強分佈擬合函數；對擬合函數求導得到中心外對稱分佈的兩個極值點的距離即爲艾裡斑的直徑，通過艾裡斑與焦距的關係式計算得到被測長焦系統的焦距值。本發明使用相機直接對待測長焦系統的出射光束進行光電成像來測量焦距，避免了測量裝置的複雜性，解決了小口徑長焦系統焦距測量的難題，能快捷調試長焦系統。

本文源自：金融界

作者：情報員